Presisjons safirvindu

Optic-well tilbyr et bredt utvalg av safirvinduer, ikke bare for forbrukerprodukter og industriområde.Vi leverer også presisjons safirvinduer til laboratorier, forskningsinstitusjoner, produsenter av presisjonsoptiske instrumenter.Vår Precision Sapphire Windows-kjøper har mange forespørsler til felles.Her viser vi noen viktige spesifikasjoner for din referanse.

Overflatekvalitet:I henhold til den amerikanske militærstandarden MIL-PRF-13830 brukes to sett med tall for å indikere størrelsen på overflatedefekter.Bruk for eksempel førstnevnte 40/20 for å begrense størrelsen på riper, og sistnevnte for å begrense størrelsen på groper.Vanligvis krever presisjons safirvinduer overflatekvalitet lik eller over S/D 60/40

Flathet på overflaten:Overflateflathet refererer til avviket til den makroskopiske konveksiteten til underlaget fra standardmalen.Flathet er en indeks som begrenser mengden endring mellom det målte objektet og standardmalen, og brukes til å kontrollere formfeilen til de målte objektene.

Vi bruker flatkrystallinterferometri for å teste produktene våre.Arbeidsflaten til den optiske flate krystallen brukes til å reflektere det ideelle planet, og graden av krumning av interferenskanten brukes direkte til å bestemme flathetsfeilverdien til den målte overflaten.Antall interferenskanter som dannes mellom det målte objektet og standardmalen ved bruk av flatkrystallinterferometri.Den optiske veiforskjellen på en halv bølgelengde danner en blenderåpning, så vi bruker vanligvis λ for å uttrykke flatheten til optiske overflater.Det beste vi kan gjøre λ/10 @633nm.

Parallellisme:Betyr kilene mellom to flate flater.Best kan være opptil 2 buesekunder.

For mer informasjon, vennligst kontakt våre selgere.

Vi har noen lagerførte presisjons safirvinduer, vennligst sjekk følgende liste og kontakt oss hvis du bare ønsker å kjøpe dem.